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产品动态
ftb-3500
光衰减器
• 波长范围：1280–1620 nm，覆盖单模光纤通信波段；
• 衰减范围：0–60 dB，最小步进0.05 dB；
• 插入损耗：≤1.2 dB（典型值），含连接器损耗；
• 回波损耗：≥55 dB，高反射抑制设计；
• 分辨率：0.005 dB，超高精度调节模式；
• 重复性：±0.03 dB，精密机械调节结构；
• 连接器类型：FC/APC（标配），可选FC/PC或SC/APC；
• 最大输入功率：600 mW，支持高功率测试环境；
• 通信接口：USB/RS-232/GPIB，支持SCPI远程控制；
• 典型应用：高速光模块测试、DWDM系统验证、光纤传感网络功率调节。
• 衰减范围：0–60 dB，最小步进0.05 dB；
• 插入损耗：≤1.2 dB（典型值），含连接器损耗；
• 回波损耗：≥55 dB，高反射抑制设计；
• 分辨率：0.005 dB，超高精度调节模式；
• 重复性：±0.03 dB，精密机械调节结构；
• 连接器类型：FC/APC（标配），可选FC/PC或SC/APC；
• 最大输入功率：600 mW，支持高功率测试环境；
• 通信接口：USB/RS-232/GPIB，支持SCPI远程控制；
• 典型应用：高速光模块测试、DWDM系统验证、光纤传感网络功率调节。
FVA-3150
光衰减器
•波长范围：1250–1650 nm，覆盖单模光纤通信波段；
•衰减范围：0–60 dB，最小步进0.1 dB；
•插入损耗：≤1.5 dB（典型值），含连接器损耗；
•回波损耗：≥50 dB，高反射抑制设计；
•分辨率：0.01 dB，高精度调节模式；
•重复性：±0.05 dB，机械式旋转调节结构；
•连接器类型：FC/APC（标配），可选FC/PC或SC/APC；
•最大输入功率：500 mW，支持高功率测试环境；
•通信接口：USB/RS-232，支持SCPI远程控制；
•典型应用：光器件插损测试、光模块灵敏度测试、光纤系统功率调节。
•衰减范围：0–60 dB，最小步进0.1 dB；
•插入损耗：≤1.5 dB（典型值），含连接器损耗；
•回波损耗：≥50 dB，高反射抑制设计；
•分辨率：0.01 dB，高精度调节模式；
•重复性：±0.05 dB，机械式旋转调节结构；
•连接器类型：FC/APC（标配），可选FC/PC或SC/APC；
•最大输入功率：500 mW，支持高功率测试环境；
•通信接口：USB/RS-232，支持SCPI远程控制；
•典型应用：光器件插损测试、光模块灵敏度测试、光纤系统功率调节。
LTB8
光衰减器
•波长范围：1250–1650 nm，覆盖单模光纤通信波段；
•衰减范围：0–60 dB，最小步进0.1 dB；
•插入损耗：≤1.5 dB（典型值），含连接器损耗；
•回波损耗：≥50 dB，高反射抑制设计；
•分辨率：0.01 dB，高精度调节模式；
•重复性：±0.05 dB，机械式旋转调节结构；
•连接器类型：FC/APC（标配），可选FC/PC或SC/APC；
•最大输入功率：500 mW，支持高功率测试环境；
•通信接口：USB/RS-232，支持SCPI远程控制；
•典型应用：光器件插损测试、光模块灵敏度测试、光纤系统功率调节。
•衰减范围：0–60 dB，最小步进0.1 dB；
•插入损耗：≤1.5 dB（典型值），含连接器损耗；
•回波损耗：≥50 dB，高反射抑制设计；
•分辨率：0.01 dB，高精度调节模式；
•重复性：±0.05 dB，机械式旋转调节结构；
•连接器类型：FC/APC（标配），可选FC/PC或SC/APC；
•最大输入功率：500 mW，支持高功率测试环境；
•通信接口：USB/RS-232，支持SCPI远程控制；
•典型应用：光器件插损测试、光模块灵敏度测试、光纤系统功率调节。
81657A
光源/可调光源
•波长范围：800–1700 nm，覆盖O/E/S/C/L/U全波段；
•功率测量范围：-80 dBm 至 +23 dBm，支持自动量程切换；
•功率测量精度：±0.02 dB（典型值），校准后（23°C±5°C）；
•分辨率：0.001 dB（高精度模式）；
•探测器类型：InGaAs（低噪声设计）；
•连接器接口：FC/PC（标配），可选FC/APC或SC接口；
•校准波长点：850/980/1310/1490/1550/1625 nm（NIST可溯源）；
•通信接口：GPIB/USB/LAN，支持SCPI远程控制；
•典型应用：光模块生产测试、光纤链路损耗测量、无源器件插损分析。
•功率测量范围：-80 dBm 至 +23 dBm，支持自动量程切换；
•功率测量精度：±0.02 dB（典型值），校准后（23°C±5°C）；
•分辨率：0.001 dB（高精度模式）；
•探测器类型：InGaAs（低噪声设计）；
•连接器接口：FC/PC（标配），可选FC/APC或SC接口；
•校准波长点：850/980/1310/1490/1550/1625 nm（NIST可溯源）；
•通信接口：GPIB/USB/LAN，支持SCPI远程控制；
•典型应用：光模块生产测试、光纤链路损耗测量、无源器件插损分析。
81663A
光源/可调光源
•波长范围：1480–1640 nm（覆盖C+L波段）
•输出功率：最高 +13 dBm
•功率稳定性：< ±0.01 dB（持续8小时）
•光谱线宽：< 100 kHz（典型值）
•波长精度：±1 pm（校准后）
•调谐步长：最小1 pm
•输出功率：最高 +13 dBm
•功率稳定性：< ±0.01 dB（持续8小时）
•光谱线宽：< 100 kHz（典型值）
•波长精度：±1 pm（校准后）
•调谐步长：最小1 pm
81656A
光源/可调光源
•覆盖 1480-1640nm（C+L波段），分辨率 0.1pm
•支持 ITU-T DWDM 标准通道（50GHz/100GHz间隔）
•可扩展至 1260-1650nm（选配O/E/S波段模块）
•兼容 Keysight 816x系列 主框架
•通信接口：
•标配：GPIB/USB
•选配：LAN（LXI-C类）
•支持 SCPI/Python/LabVIEW 控制
•支持 ITU-T DWDM 标准通道（50GHz/100GHz间隔）
•可扩展至 1260-1650nm（选配O/E/S波段模块）
•兼容 Keysight 816x系列 主框架
•通信接口：
•标配：GPIB/USB
•选配：LAN（LXI-C类）
•支持 SCPI/Python/LabVIEW 控制
81655A
光源/可调光源
• 波长范围：700~1700nm（覆盖O/E/S/C/L波段）
• 动态范围：+3dBm ~ -90dBm，分辨率达 0.001dB
• 校准精度：±0.02dB（支持用户自定义校准）
• 采样速率：10μs 高速采样，捕捉瞬态功率波动
• 数据分析：内置趋势图/直方图，支持BER估算
• 自动化测试：兼容Keysight主机构架，支持SCPI指令控制
• 长期稳定性：功率波动<0.01dB，适合老化测试
• 低噪声设计：确保微弱信号测量准确性
• 动态范围：+3dBm ~ -90dBm，分辨率达 0.001dB
• 校准精度：±0.02dB（支持用户自定义校准）
• 采样速率：10μs 高速采样，捕捉瞬态功率波动
• 数据分析：内置趋势图/直方图，支持BER估算
• 自动化测试：兼容Keysight主机构架，支持SCPI指令控制
• 长期稳定性：功率波动<0.01dB，适合老化测试
• 低噪声设计：确保微弱信号测量准确性
81654A
光源/可调光源
• 应用领域：光通信测试、DWDM、相干通信、光纤传感、器件表征
• 波长范围：1480~1640nm（可扩展），±0.2pm高精度
• 光谱特性：超窄线宽（<100kHz），低RIN噪声（<-155dB/Hz）
• 输出模式：支持CW连续波和调制激光输出
• 稳定性：功率波动<0.01dB，适合长期测试
• 系统集成：兼容Agilent主机构架，支持自动化控制
• 典型用途：光器件测试、系统验证、实验室研发
• 波长范围：1480~1640nm（可扩展），±0.2pm高精度
• 光谱特性：超窄线宽（<100kHz），低RIN噪声（<-155dB/Hz）
• 输出模式：支持CW连续波和调制激光输出
• 稳定性：功率波动<0.01dB，适合长期测试
• 系统集成：兼容Agilent主机构架，支持自动化控制
• 典型用途：光器件测试、系统验证、实验室研发
80C07B Tektronix
采样示波器/模块
• 光带宽 50 GHz 支持25G/50G/100G光信号分析
• 波长范围 1260 ~ 1620 nm 覆盖C/L波段
• 最大输入功率 +20 dBm 内置VOA（可调光衰减器）优化动态范围
• 偏振相关性 < 0.5 dB 降低偏振依赖性
• 回波损耗 > 40 dB 减少反射干扰
• 连接器类型 FC/PC 或 SC/PC（可选） 适配主流光纤接口
• 波长范围 1260 ~ 1620 nm 覆盖C/L波段
• 最大输入功率 +20 dBm 内置VOA（可调光衰减器）优化动态范围
• 偏振相关性 < 0.5 dB 降低偏振依赖性
• 回波损耗 > 40 dB 减少反射干扰
• 连接器类型 FC/PC 或 SC/PC（可选） 适配主流光纤接口
