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产品动态
C.A 70N + 热成像仪
其他
C.A 70N + 热成像仪，工业维护 / 电气检测专用红外设备，320×240 分辨率 +(-20°C 至 + 649°C) 测温范围，支持实时分析、多区域测温与自动报警，MSX® 技术提升诊断精准度。
C.A 6543 数字绝缘测试仪
综合测试仪
C.A 6543 数字绝缘测试仪，±30V/5A + 5V/10A 输出，1mV/0.1mA 分辨率，支持自动化测试，适配多工业场景。
C.A 6541 数字绝缘测试仪
电池内阻测试仪
C.A 6541 数字绝缘测试仪，±30V/1A + 5V/3A 输出，≤1mV/0.1mA 分辨率，支持多通信方式，适配工业测试。
C.A 6472 接地电阻测试仪 - 高精度直流稳压电源测试设备
电池内阻测试仪
C.A 6472 接地电阻测试仪，0-30V 可调电压、0-5A 电流输出，±0.05% 精度，LED 显示，适配电子设备维修与工业检测。
KEYSIGHT N1077B 采样示波器光 / 电时钟恢复模块
光/电时钟恢复
KEYSIGHT N1077B 采样示波器时钟恢复模块：125MBd-64GBd 速率、光 / 电双输入、100fs 低抖动，支持 PCIe 4.0/5.0，含 Golden PLL 模式，满足高速信号测试需求。
ESL
综合测试仪
•波长范围：1280~1625 nm（覆盖O/E/S/C/L波段）
•功率测量范围：-80 dBm ~ +26 dBm（带自动衰减量程）
•动态范围：106 dB（高灵敏度模式）
•线性度：±0.02 dB（@1550nm，-30~+10dBm）
•功率测量范围：-80 dBm ~ +26 dBm（带自动衰减量程）
•动态范围：106 dB（高灵敏度模式）
•线性度：±0.02 dB（@1550nm，-30~+10dBm）
ESRP
源测量单元 (SMU)
• 波长范围：1260-1620 nm（覆盖O/E/S/C/L波段扩展应用）
• 动态范围：-80 dBm 至 +26 dBm（自动量程+手动超量程模式）
• 绝对精度：±0.02 dB @ 1550 nm（23°C±1°C恒温环境）
• 分辨率：0.001 dB（高精度模式）/ 0.01 dB（标准模式）
• 探测器技术：热电制冷型InGaAs（温控精度±0.1°C）
• 动态范围：-80 dBm 至 +26 dBm（自动量程+手动超量程模式）
• 绝对精度：±0.02 dB @ 1550 nm（23°C±1°C恒温环境）
• 分辨率：0.001 dB（高精度模式）/ 0.01 dB（标准模式）
• 探测器技术：热电制冷型InGaAs（温控精度±0.1°C）
ESR
源测量单元 (SMU)
• 波长范围：1525-1625 nm，覆盖C+L波段扩展单模光纤传输窗口
• 功率测量范围：-80 dBm 至 +26 dBm（带自动衰减器切换功能）
• 测量精度：±0.02 dB（典型值），在恒温条件下（25°C±3°C）
• 分辨率：0.001 dB（高灵敏度模式），0.01 dB（标准模式）
• 探测器配置：双InGaAs探测器（主动温控±0.1℃）
• 功率测量范围：-80 dBm 至 +26 dBm（带自动衰减器切换功能）
• 测量精度：±0.02 dB（典型值），在恒温条件下（25°C±3°C）
• 分辨率：0.001 dB（高灵敏度模式），0.01 dB（标准模式）
• 探测器配置：双InGaAs探测器（主动温控±0.1℃）
SMC100A
数据采集/模块
• 频率范围：10 MHz~20 GHz，覆盖C/Ku/Ka波段卫星通信频段
• 功率输出范围：-30 dBm~+13 dBm（可扩展至+20 dBm选件）
• 相位噪声：<-110 dBc/Hz @10 kHz偏移（1 GHz载波典型值）
• 频率分辨率：0.1 Hz（高稳定恒温晶振基准）
• 本振源类型：低相噪YIG振荡器（带主动温控补偿）
• 功率输出范围：-30 dBm~+13 dBm（可扩展至+20 dBm选件）
• 相位噪声：<-110 dBc/Hz @10 kHz偏移（1 GHz载波典型值）
• 频率分辨率：0.1 Hz（高稳定恒温晶振基准）
• 本振源类型：低相噪YIG振荡器（带主动温控补偿）
