1. 品牌介绍
是德科技（KEYSIGHT）源自惠普（HP）电子测量业务，拥有多年电子测量技术积累，聚焦于提供电子设计、仿真与测试相关设备及服务，覆盖电子设计自动化、测试验证、制造优化全流程。业务覆盖多个国家和地区，在通信、航空航天与国防、半导体、工业与计算机等领域持续深耕，为电子行业从业者提供稳定可靠的测量设备与技术支持。
2. 产品特点
宽频可升级设计：频率范围覆盖20Hz至120MHz，提供5种可升级频率选件（20Hz至10/20/30/50/120MHz），可根据测试需求灵活选择，支持后期频率升级，降低前期投入成本，适配不同场景的测试需求。
高精度测量能力：采用自动平衡电桥法测量，基本阻抗测量精度达±0.08%，典型值可达±0.045%，阻抗测量范围为25mΩ至40MΩ（10%测量精度条件下），能精准捕捉阻抗参数的细微变化，保障测量数据的可靠性。
丰富测量参数与功能：支持多种阻抗相关参数测量，包括|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q等，同时可测量Vac、Iac、Vdc、Idc等电平参数；具备等效电路分析、极限线测试功能，等效电路分析支持7种不同多参数模型，助力器件特性深度分析。
内置直流偏置电源：内置0V至±40V、0A至±100mA直流偏置电源，分辨率达1mV/40μA，可满足半导体元器件等需要直流偏置条件下的阻抗测试需求，简化测试环境搭建。
便捷操作与显示：配备10.4英寸TFT彩色LCD触摸屏，支持4通道4迹线同时显示，可同步查看不同测试条件下的参数；前面板设有硬键与功能键，搭配上下文相关嵌入式帮助系统，操作便捷，降低使用门槛。
灵活接口与扩展能力：配备USB、LAN、USBTMC、GPIB等多种接口，支持远程控制与数据传输；支持多种测试附件，可通过42942A终端适配器、42941A阻抗探头等扩展测量功能，适配接地器件等特殊测试场景。
3. 产品规格
产品型号：E4990A
仪器类型：高性能台式阻抗分析仪
测量方法：自动平衡电桥法
频率范围：20Hz至10/20/30/50/120MHz（5种可升级选件，对应选件010/020/030/050/120）
基本阻抗精度：±0.08%（典型值±0.045%）
阻抗测量范围：25mΩ至40MΩ（10%测量精度条件下）
测量参数：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、Complex Z、Complex Y、Vac、Iac、Vdc、Idc
直流偏置：0V至±40V，0A至±100mA，分辨率1mV/40μA
信号电平：电压5mVrms至1Vrms（1mV分辨率），电流200μArms至20mArms（20μA分辨率），支持自动电平控制（ALC）
显示与操作：10.4英寸TFT彩色LCD触摸屏，4通道4迹线显示，每条迹线10个独立游标
接口规格：前面板2个USB端口、后面板4个USB端口、LAN（10/100/1000 base-T以太网）、USBTMC、GPIB、24位I/O
可选配置：增强测量速度选件（001，仅适用于10M/20M/30M/50M频率选件）、42942A终端适配器、42941A阻抗探头、N1500A材料测量软件
标配附件：1台E4990A阻抗分析仪、1年KeysightCare标准支持、标准数据存储、用户手册及编程手册
4. 应用场景
无源元器件测试场景：用于电容器、电感器、铁氧体磁珠、电阻、变压器、晶体/陶瓷谐振器等无源元器件的阻抗测量，可精准表征器件的频率响应、自谐振频率等特性，辅助研发与质控。
半导体元器件测试场景：适用于变容二极管的C-V特征分析，以及二极管、晶体管、放大器、MEMS等半导体器件的阻抗评测，可在直流偏置条件下完成器件特性测试，满足半导体研发与生产需求。
材料测量场景：搭配专用夹具与N1500A软件，可完成塑料、陶瓷、印刷电路板等介电材料，以及铁氧体、非晶体等磁性材料的介电常数、损耗因数、导磁率等参数测量，适配材料研发与验证。
实验室研发验证场景：作为实验室常规阻抗测量设备，适配电子元器件、材料、半导体等领域的研发测试，可完成参数调试、特性分析、设计验证等工作，支持多参数、多条件同步测试。
产线质控与检验场景：集成于产线测试系统，用于元器件、半导体器件的批量质量检测，具备快速测量能力，可通过极限线测试功能快速判断产品是否合格，保障出厂产品质量一致性。
