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KEYSIGHT N7788C光器件分析仪多参数一体化测试光通信元器件表征核心设备

主要特性：

KEYSIGHT N7788C作为是德科技光器件测试领域旗舰级产品，聚焦光通信元器件全参数精准表征需求，实现多测试功能一体化集成。宽波长覆盖适配主流光通信波段，无需更换测试设备即可完成多参数测试，大幅简化测试流程。凭借优异的测量精度与重复性，保障测试数据的可靠性与一致性。支持自动化测试脚本编写与批量测试，可无缝集成至产线自动化平台。操作界面简洁直观，数据处理与导出功能丰富，广泛应用于光器件研发、量产验证、科研实验等场景，是提升光测试效率与质量的核心装备。

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KEYSIGHT N7788C光器件分析仪多参数一体化测试光通信元器件表征核心设备

概述

一、产品差异化优点

多参数一体化，测试效率跃升：集成插入损耗、回波损耗、PDL、色散、偏振模色散（PMD）等核心参数测试功能，无需多台设备协同，一次连接即可完成全维度表征，相较于分立测试方案，大幅缩短测试周期，降低操作复杂度。
高精度高稳定，数据精准可靠：PDL测试分辨率达0.001dB，插入损耗重复性±0.002dB，波长准确度±1pm，测量不确定度低，采用高稳定性光学架构与温度补偿技术，长期运行数据一致性优异，为精准表征提供核心保障。
宽频多纤兼容，场景覆盖广泛：波长覆盖1250-1650nm全波段，兼容单模、多模光纤及各类通用光连接器，适配光滤波器、耦合器、光开关、光放大器等多类型光器件测试，满足研发、产线、科研等多元场景需求。
自动化适配强，批量测试便捷：支持SCPI指令、IVI-COM驱动，可灵活编写自动化测试脚本，无缝集成至产线自动化测试平台，支持批量器件快速筛查与参数校准，大幅提升产线吞吐量。
智能操作便捷，用户体验优异：配备15英寸高清触控屏，内置标准化测试模板与智能数据处理算法，支持测试数据实时分析、导出与报告生成，操作门槛低，同时兼容远程控制，适配无人值守测试场景。

二、产品详细参数

参数类别	具体参数
波长范围	1250nm-1650nm（全波段覆盖）
光纤兼容性	单模光纤（SMF）、多模光纤（MMF）
测试参数	插入损耗、回波损耗、偏振相关损耗（PDL）、色散、偏振模色散（PMD）等
PDL测试精度	分辨率0.001dB，重复性±0.005dB
插入损耗性能	测量范围0-60dB，重复性±0.002dB
波长准确度	±1pm
扫描速度	最快100nm/s（全波段扫描）
控制接口	LAN（1000BaseT）、USB 3.0、GPIB、远程控制接口
操作与显示	15英寸高清触控屏，内置标准化测试模板，支持数据导出与报告生成

三、应用场景

光器件研发表征：为光滤波器、耦合器、光开关、光放大器、光隔离器等元器件研发提供全参数精准表征，验证器件设计性能，优化产品结构与工艺，助力新产品迭代升级。
光模块性能测试：用于光收发模块、光传输模块等核心光模块的元器件级测试，表征模块内部光器件的关键参数，保障光模块整体传输性能与稳定性，适配通信设备厂商选型需求。
产线批量验证：集成至光器件量产自动化测试平台，对量产光器件进行批量参数筛查与精准校准，通过快速扫描与自动化流程，保障出厂产品性能一致性，大幅提升产线测试效率与产能。
教育科研实验：适配高校与科研院所的光通信技术教学与科研实验，可实现多参数精准测量与数据可视化，帮助学生理解光器件特性，辅助科研人员开展新型光通信技术与器件研发。
光网络运维检测：为通信运营商与运维企业提供光网络核心器件运维检测方案，定期表征光网络中关键光器件的参数衰减与性能变化，提前排查网络故障隐患，保障光网络长期稳定运行。

KEYSIGHT N7788C光器件分析仪 多参数一体化测试 光通信元器件表征核心设备

KEYSIGHT N7788C光器件分析仪 多参数一体化测试 光通信元器件表征核心设备

一、产品差异化优点

二、产品详细参数

三、应用场景

KEYSIGHT N7788C光器件分析仪多参数一体化测试光通信元器件表征核心设备

KEYSIGHT N7788C光器件分析仪多参数一体化测试光通信元器件表征核心设备