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KEYSIGHT 81595B光开关模块低插损高重复性光通信测试光路切换核心组件

主要特性：

KEYSIGHT 81595B作为是德科技光测试核心模块产品，聚焦光通信系统光路切换与多通道测试需求，兼顾稳定性与高效性。采用1×4矩阵架构，单模/多模双兼容，可灵活实现多光源、多探测器的光路路由切换。凭借低插损、高重复性与高速切换特性，能最大限度降低信号损耗与测试不确定性，保障测试数据精准。1000万次超长使用寿命，可有效降低用户拥有成本。模块化设计可无缝集成至主流光波测量平台，广泛应用于光器件测试、光收发模块验证等研发与产线场景。

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KEYSIGHT 81595B光开关模块低插损高重复性光通信测试光路切换核心组件

概述

一、产品差异化优点

低损高纯，信号传输优质：插入损耗＜2dB，偏振相关损耗（PDL）＜0.07dB，回波损耗＞55dB，串扰低至-70dB，相较于同类产品信号衰减更小、干扰更低，可最大程度保障光信号传输完整性，提升测试数据准确性。
高速切换，测试效率突出：光路切换速度＜10ms，10000次随机切换周期重复性达0.03dB，切换响应迅速且一致性优异，能大幅缩短多通道测试的光路切换时间，提升产线批量测试与实验室研发测试的吞吐量。
超长寿命，运行稳定可靠：保证使用寿命＞1000万次切换周期，采用高耐用性核心组件，长期连续运行故障率低，无需频繁维护更换，有效降低用户运维成本与停机损失，保障测试流程连续性。
双纤兼容，场景适配多元：兼容单模（SMF）与多模（MMF）光纤，1×4矩阵架构可灵活实现多路光路路由切换，适配不同光纤类型的光器件、光模块测试需求，应用场景覆盖更广泛。
高兼容性，集成便捷性高：可无缝集成至是德科技8163B、8164B、8166B光波解决方案平台，支持与多类型光源、功率计、探测器等设备协同工作，便于接入自动化测试系统，适配研发、量产全流程应用。

二、产品详细参数

参数类别	具体参数
核心架构	1×4矩阵式光开关
光纤兼容性	单模光纤（SMF）、多模光纤（MMF）
插入损耗	＜2dB
偏振相关损耗（PDL）	＜0.07dB（单模配置）
切换速度	＜10ms
重复性	0.03dB（10000次随机切换周期）
信号隔离特性	回波损耗＞55dB；串扰≤-70dB
使用寿命	保证＞1000万次切换周期
兼容平台	Keysight 8163B、8164B、8166B光波解决方案平台

三、应用场景

光器件多通道测试：适配光滤波器、耦合器、光放大器等无源光器件的多通道测试场景，通过1×4矩阵光路切换，可实现单套测试系统对多器件、多参数的连续测试，无需频繁手动切换光路，提升测试效率。
光收发模块验证：用于光收发模块的性能验证与量产测试，可灵活切换多路光源与探测器，模拟实际应用中的光路切换场景，测试模块在不同光路路由下的接收灵敏度、传输稳定性等关键参数，保障产品质量。
光网络保护倒换测试：适配光网络保护倒换系统测试，模拟光网络链路故障时的光路自动切换场景，验证保护倒换系统的切换响应速度、信号连续性与稳定性，为光网络可靠性提供测试支撑。
多光源/探测器切换应用：在实验室研发与产线测试中，可实现多台激光源、功率计、示波器等设备的光路灵活路由，简化测试系统搭建复杂度，降低多设备协同测试的操作门槛。
光传感多点监测：适配光传感系统的多点监测场景，通过光路切换实现单套传感接收设备对多个监测点的信号采集与分析，广泛应用于光纤传感、工业监测等领域的光路管控。

KEYSIGHT 81595B光开关模块 低插损高重复性 光通信测试光路切换核心组件

KEYSIGHT 81595B光开关模块 低插损高重复性 光通信测试光路切换核心组件

一、产品差异化优点

二、产品详细参数

三、应用场景

KEYSIGHT 81595B光开关模块低插损高重复性光通信测试光路切换核心组件

KEYSIGHT 81595B光开关模块低插损高重复性光通信测试光路切换核心组件