器件表征需要进行更多类型、更高频率、容限更严格的测量,因此您不仅要适应当前的情况,还要准备好应对未来的新挑战。 Keysight E5071C ENA 已经停产,替代它的 ENA 功能更强大,能够满足当前和未来的需求。 请点击以下链接,查看我们最新的台式 ENA、PXI ENA 以及新型精简系列 ENA。
高吞吐量、高良率
E5071C 是大规模无源元器件测试的理想解决方案。 它具有出色的测量性能,有助于提高测试吞吐量,尤其是与 E5092A 多端口测试仪配合使用时,可以大幅提高生产能力。 灵活的多端口设置可以显著缩短测试时间。
E5071C 网络分析仪软件
网络分析仪软件工具支持您在各种测量应用中调查、表征自己的设计以及诊断设计问题。 借助 E5071C 上的无线电能传输分析、频偏模式、时域分析等应用软件,可以让复杂的测量变得轻松异常。
E5071C 网络分析仪具有较高的射频性能和较快的速度,并具有宽频率范围和全面的功能。它是制造和研发工程师们测试频率范围在 20 GHz 以内的射频元器件和电路的理想解决方案。
广泛的动态范围:在测试端口处具有 > 123 dB 的动态范围(典型值)
极快的测量速度:全双端口校准时为 41 ms,1601 点
低迹线噪声:70 kHz 中频带宽(IFBW)处为 0.004 dB rms
集成的 S 参数测试装置
端口选项:2 端口和 4 端口
平衡测量能力(4 端口选件)
应用场景
无源射频器件测试:滤波器、双工器、功分器、耦合器、谐振器、射频线缆、连接器的插入损耗、回波损耗、隔离度测试。
天线测试:天线 S 参数、驻波比、馈线系统性能验证。
有源器件测试:低噪声放大器 LNA、功率放大器 PA、混频器,增益压缩、IMD、群延迟特性表征。
高速互连测试:TDR 时域阻抗分析,PCB 走线、高速线缆阻抗与不连续点定位。
多端口器件量产测试:搭配 E5092A 多端口测试套件,用于多路射频器件自动化产线质检。
科研与教学实验室:射频微波课程实验、器件研发验证、新材料电磁参数测试。
