DSA8300 Tektronix 泰克 数字采样示波器
主要特性：
• 垂直分辨率 – 16 位模数转换器
• 电接口分辨率：<20 µV LSB（适用于 1 v 全量程）
• 光接口分辨率从 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW
• 光接口带宽 >80 GHz
• 电接口带宽 >70 GHz
• 为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了超过 120 种自动测量功能
• 80 多种行业标准模板，自动进行模板测试
• 复杂抖动/噪声/BER/SER 分析 (80SJNB)，支持复杂测量 TDECQ 1, SNDR 2 (应用)
• 电接口分辨率：<20 µV LSB（适用于 1 v 全量程）
• 光接口分辨率从 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW
• 光接口带宽 >80 GHz
• 电接口带宽 >70 GHz
• 为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了超过 120 种自动测量功能
• 80 多种行业标准模板，自动进行模板测试
• 复杂抖动/噪声/BER/SER 分析 (80SJNB)，支持复杂测量 TDECQ 1, SNDR 2 (应用)
DSA8300 Tektronix 泰克 数字采样示波器
（一）产品特点
超宽带宽覆盖：电接口 > 70GHz、光接口 > 80GHz，适配 400G/800G/1.6T 光模块与超高速数字信号。
极致信号保真：16 位 ADC，电分辨率 < 20μV LSB；时基抖动 425fs（8 通道），相位参考模块可 < 100fs。
模块化灵活扩展：6 插槽支持电 / 光模块混插，最多 8 通道同步采集，覆盖 155Mb/s–1.6Tb/s 全速率。
集成多功能分析：内置 TDR、时钟恢复、SDLA，120 + 自动测量，眼图 / 抖动 / BER 一体化测试。
高灵敏度测量：光信号最低 < 20nW，精准捕捉微弱信号与瞬态细节。
标准合规测试：80 + 行业标准模板，满足 ITU/ANSI/IEEE 一致性验证。
工业级稳定性：Windows 平台，长期连续测试可靠，适配研发与量产场景。
（二）详细产品规格
| 参数项目 | 原厂标称规格 |
|---|---|
| 型号 | Tektronix DSA8300（数字串行分析仪采样示波器） |
| 电接口带宽 | >70GHz |
| 光接口带宽 | >80GHz |
| 垂直分辨率 | 16 位 ADC；电 < 20μV LSB，光最低 < 20nW |
| 时基抖动 | 典型 425fs（8 通道）；配 82A04B 相位参考模块 < 100fs（6 通道） |
| 同步采集通道 | 最多 8 通道 |
| 采样速率 | TDR 模式 300kS/s/ 通道；其他模式 200kS/s/ 通道 |
| 记录长度 | ≥15000 采样点 |
| 测量功能 | 120 + 自动测量；眼图、抖动、BER、SDLA、TDR 分析 |
| 模块插槽 | 6 个，支持电 / 光 / 功能模块混插 |
| 操作系统 | Windows 7 Ultimate（32 位） |
| 尺寸（宽 × 高 × 深） | 457mm×343mm×419mm |
| 重量 | 21kg（净重） |
| 原厂质保 | 整机 3 年官方保修 |
（三）应用场景
高速光模块测试：400G/800G/1.6T 光模块、相干收发器的眼图、抖动、消光比精密测试。
高速数字电路：DDR5、HBM3、PCIe 等高速总线的信号完整性、串扰、阻抗表征。
半导体与封装：芯片、PCB、封装的 TDR 阻抗、S 参数、时延与串扰分析。
光通信研发：硅光、光调制器、高速光器件的研发验证与一致性测试。
高校科研：高速信号、光子学、微电子学等精密测量实验。
量产测试：自动化测试系统集成，满足高速器件量产校准与良率检测。
2022-10-12
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2024-06-25
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2024-06-27
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