O 波段硅光芯片测试光源｜Santec TSL-570 无跳模可调激光器应用解析
O 波段硅光芯片测试光源｜Santec TSL-570 无跳模可调激光器应用解析
随着数据中心短距互联、片上硅光子 PIC 技术快速发展，O 波段（1260~1360nm，中心 1310nm）硅光芯片成为研发热点。微环谐振器、片上滤波器、硅光调制器等器件的光谱表征，需要可调谐光源进行宽波长连续扫描。很多工程师选型时发现，普通 O 波段可调激光器在大范围波长扫描过程极易出现跳模现象，一旦跳模，光谱曲线直接断裂，芯片谐振峰测量失真，需要反复复测，严重拖慢硅光流片后的验证进度。同时部分光源噪声偏高，微弱的谐振信号被噪声掩盖，难以精准表征硅光器件的精细光谱特性。
Santec TSL-570 O 波段可调谐激光器，专为 O 波段硅光芯片、PIC 光子集成电路测试打造，延续 Santec 成熟的无跳模激光谐振腔设计，在整个 O 波段扫描区间内实现连续无跳模波长调谐，扫描过程输出模式稳定，不会出现模式跳变造成的数据失效问题。光源具备优异的低 ASE 噪声特性，信噪比高，能够精准捕捉硅光微环、片上光栅的窄带谐振信号，非常适合微弱光谱响应测量。
这款 O 波段 TSL-570 波长覆盖 1260~1360nm，适配 1310nm 数据中心硅光器件全波段扫描测试，输出光功率稳定，波长调谐精度高。仪器支持程控远程控制，可集成到自动化测试平台，搭配偏振控制器、光功率计、偏振分析仪搭建整套硅光芯片测试系统，自动完成光谱扫描、损耗采集、偏振相关参数测试，大幅减少人工操作，提升芯片批量测试效率。
除实验室硅光芯片研发验证外，该光源同样适用于 O 波段无源光器件、短距光收发组件的质检工作。不管是流片后的原型器件摸底，还是小批量样品筛查，连续无跳模扫描能力可以显著降低复测率，缩短研发周期。
深圳美佳特有 Santec TSL-570 O 波段版本现货，如需硅光测试方案、技术支持或者产品手册，欢迎联系咨询。
O 波段硅光芯片测试光源｜Santec TSL-570 无跳模可调激光器应用解析
随着数据中心短距互联、片上硅光子 PIC 技术快速发展，O 波段（1260~1360nm，中心 1310nm）硅光芯片成为研发热点。微环谐振器、片上滤波器、硅光调制器等器件的光谱表征，需要可调谐光源进行宽波长连续扫描。很多工程师选型时发现，普通 O 波段可调激光器在大范围波长扫描过程极易出现跳模现象，一旦跳模，光谱曲线直接断裂，芯片谐振峰测量失真，需要反复复测，严重拖慢硅光流片后的验证进度。同时部分光源噪声偏高，微弱的谐振信号被噪声掩盖，难以精准表征硅光器件的精细光谱特性。
Santec TSL-570 O 波段可调谐激光器，专为 O 波段硅光芯片、PIC 光子集成电路测试打造，延续 Santec 成熟的无跳模激光谐振腔设计，在整个 O 波段扫描区间内实现连续无跳模波长调谐，扫描过程输出模式稳定，不会出现模式跳变造成的数据失效问题。光源具备优异的低 ASE 噪声特性，信噪比高，能够精准捕捉硅光微环、片上光栅的窄带谐振信号，非常适合微弱光谱响应测量。
这款 O 波段 TSL-570 波长覆盖 1260~1360nm，适配 1310nm 数据中心硅光器件全波段扫描测试，输出光功率稳定，波长调谐精度高。仪器支持程控远程控制，可集成到自动化测试平台，搭配偏振控制器、光功率计、偏振分析仪搭建整套硅光芯片测试系统，自动完成光谱扫描、损耗采集、偏振相关参数测试，大幅减少人工操作，提升芯片批量测试效率。
除实验室硅光芯片研发验证外，该光源同样适用于 O 波段无源光器件、短距光收发组件的质检工作。不管是流片后的原型器件摸底，还是小批量样品筛查，连续无跳模扫描能力可以显著降低复测率，缩短研发周期。
深圳美佳特有 Santec TSL-570 O 波段版本现货，如需硅光测试方案、技术支持或者产品手册，欢迎联系咨询。