深圳光博会｜吉时利 2612B 双通道 SMU 源表
深圳光博会｜吉时利 2612B 双通道 SMU 源表
光电探测器、VCSEL、LED、半导体分立芯片的器件表征测试，常常需要双通道同步施加激励电压 / 电流，同时采集对应的输出信号。如果采用分立电源搭配台式万用表搭建测试系统，会存在通道时序不同步、微弱电流测量噪声高、多工位自动化编程复杂、系统集成难度大等问题，难以稳定复现器件 I-V、I-P 特性曲线，制约实验室研发与产线自动化测试站落地。
吉时利 2612B 属于 2600B 系列双通道系统级源测量单元（SMU），两路完全独立隔离通道，每通道集成电压源、电流源、电子负载与高精度测量功能。电压量程最高 200V，直流输出可达 1.5A，脉冲模式最高 10A 电流输出，电流测量分辨率可达 100fA，6 位半测量精度，最高读数速率 20k 次 / 秒。
搭载 TSP 测试脚本处理器，仪器本地即可独立运行完整测试程序，依托 TSP-Link 总线可以菊花链扩展，最多联动 32 台仪器，拓展至 64 通道并行测试。同时兼容 SCPI 指令，对原有 2400 系列代码具备良好兼容性，方便旧测试系统平滑升级迁移。仪器广泛用于 PD 光电探测器、VCSEL、LED、半导体器件的 I-V 曲线扫描、漏电流测试、器件可靠性老化测试，是搭建多通道自动化光电器件测试系统的优选设备。
深圳光博会 10B12 展位可现场演示双通道同步 I-V 扫描测试，欢迎前来探讨光电器件自动化测试系统搭建、产线测试程序开发相关方案。
深圳光博会｜吉时利 2612B 双通道 SMU 源表
光电探测器、VCSEL、LED、半导体分立芯片的器件表征测试，常常需要双通道同步施加激励电压 / 电流，同时采集对应的输出信号。如果采用分立电源搭配台式万用表搭建测试系统，会存在通道时序不同步、微弱电流测量噪声高、多工位自动化编程复杂、系统集成难度大等问题，难以稳定复现器件 I-V、I-P 特性曲线，制约实验室研发与产线自动化测试站落地。
吉时利 2612B 属于 2600B 系列双通道系统级源测量单元（SMU），两路完全独立隔离通道，每通道集成电压源、电流源、电子负载与高精度测量功能。电压量程最高 200V，直流输出可达 1.5A，脉冲模式最高 10A 电流输出，电流测量分辨率可达 100fA，6 位半测量精度，最高读数速率 20k 次 / 秒。
搭载 TSP 测试脚本处理器，仪器本地即可独立运行完整测试程序，依托 TSP-Link 总线可以菊花链扩展，最多联动 32 台仪器，拓展至 64 通道并行测试。同时兼容 SCPI 指令，对原有 2400 系列代码具备良好兼容性，方便旧测试系统平滑升级迁移。仪器广泛用于 PD 光电探测器、VCSEL、LED、半导体器件的 I-V 曲线扫描、漏电流测试、器件可靠性老化测试，是搭建多通道自动化光电器件测试系统的优选设备。
深圳光博会 10B12 展位可现场演示双通道同步 I-V 扫描测试，欢迎前来探讨光电器件自动化测试系统搭建、产线测试程序开发相关方案。